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大规模集成电路测试系统(Direct Mount) QT-9000
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MOSFET RG/CG 测试系统 QT-3107
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Test System

QT-3000 Series热阻测试仪 QT-3102

热阻测试仪 QT-3102

QT-3102-XX测试器件类型:三极管、场效应管、IGBT、二极管、可选SCR。
• 可以内置到QT-4100的DC测试项内实现大功率内置热阻测试。
• 通过scanbox可以实现Dual Die测试。

主要技术指标 

项目 范围 阶跃电流 精度
偏置电流IE/IDS 0.01 to 20A/50A 0.01A ±1%+2mA
测量电流IM 1 to 100mA 1 mA 1 to 39 mA
±1% + 0.2 mA
40 to 100 mA ±3%
门限电压Gate-L 1.0 to 20.0V(±5V的固定值初始值) 0.1V ±0.5V
功耗时间PT 在偏置功率范围300 us to 200ms 1 us 晶体
延时DT 10 to 999 us 1 us ±1 us 晶体
上限/下限 0 to 9999 mV 1 mV /
0 to 999.9 mV 0.1mV /
VCB/VDS 1 to 100V / 200V 1 V ±0.2% + 0.1V
• 最大电流,最高电压视机型而定,最大电流分别有20A,50A;最大电压分别有100V,200V。
• 对于所有技术参数本公司有权随时修订,不作另行通知。


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